由中国计算机学会、苏州工业园区管理委员会主办，苏州中科集成电路设计中心、东南大学、苏州市软件测评中心、中科院计算所、苏州市集成电路行业协会承办的第五届中国测试学术会议（CTC’08）定于2008年5月21~23日在苏州市工业园区国际科技园召开。

本届会议主题为“加强学术界与工业界交流，促进测试技术发展”，将交流、讨论数字电路测试和DFT，AMS电路测试和DFT，软件测试和测试平台，设计验证和模拟，容错技术和信息安全，ATE和测试应用等方面的技术。

为方便广大本地企业和科研院校能和与会专家就各类所关心的问题进行互动讨论，本次会议特别安排了报告会及专题讨论会为本地企业免费开放。欢迎感兴趣的企业和个人报名参加。

会场名额有限，请速报名。

附件:1.邀请函.

     2.电子报名表.