伴随着SOC技术的发展，混合信号技术给当今的半导体产业带来了很多新挑战，以前一些在数字系统中只有很小影响的缺陷如今却可能大大改变模拟电路的功能，导致器件无法使用。为确保这些新型半导体器件达到“无缺陷”水平，需要开发新的测试策略、方法与技术。

为配合产业发展的形势，为本地区产业提供深入了解Mixed Signal 测试技术的机会，苏州中科将于2008年1月11日邀请来自台湾地区拥有多年测试经验的老师为业界奉献一场专业技术培训课程。课程将让学员深入了解集成电路模拟及混频特性及量测原理、测试机台、测试项目与测试方法、 测试程序、操作环境及整体测试流程，并配合案例说明集成电路混频测试技术的应用。

课程对象：

1.IC设计企业之测试工程师，产品工程师；

2.IC测试公司测试工程师,产品工程师；

3.理工相关背景对混频测试有兴趣者。

课程大纲：

1. Analog Sampled Channel Testing         2. Sampled Channel Testing

3. DAC and DAC Testing                              4. ADC and ADC Testing

5. PLL and PLL Testing