IC在研制、生产、和使用过程中都会发生失效，通过失效分析工作可以帮助IC技术人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配，同时也可以为他们寻求问题的解决方案提供参考依据，因此随着集成电路行业在中国的迅速发展，失效分析技术越来越得到业界人士的关注。

为了把更加完整的失效分析概念、更加先进的失效分析技术以及更加完善的失效分析服务带给中国的集成电路企业，促进中国的集成电路产业以更快的速度向前发展，业实集成电路（上海）有限公司、苏州中科集成电路设计中心特邀国际知名的材料分析及失效分析专家——凌北卿博士于5月18日在苏州中科集成电路设计中心进行题为《先进失效分析技术及其在IC产业中的应用》的免费讲座。

u       讲座主题：《先进失效分析技术及其在IC产业中的应用》

u       讲座时间：5月18日（周三）13：00－16：00

u       讲座地点：苏州中科集成电路设计中心（苏州工业园区机场路328号国际科技园二期E401）

u       讲座大纲：1、先进的失效分析技术可以为IC产业带来什么？

2、失效分析流程介绍

3、失效分析工具与技术介绍

4、失效分析在IC产业中的应用——案例分析

u       讲座主办：苏州中科集成电路设计中心

业实集成电路（上海）有限公司

u 讲师资料：

凌北卿 博士

         学历：

加州伯克莱大学，材料科学工程系，博士（1978/9——1983/1）

台湾清华大学，材料科学工程系，硕士（1975/9——1977/6）

         经历：

执行总裁，美国艾玛（AMER）公司（1988/6——Present）

美国艾玛（AMER）公司创立于1988年，是目前美国最大的失效分析服务公司，拥有最完备的分析仪器和最尖端的失效分析技术，其技术团队拥有IC,TFT-LCD,III-V族元件材料和LCOS等不同产业多年的品质经营和技术分析经验，提供的服务涵盖单项技术分析服务和各产业制程技术提升的顾问咨询服务。

资深物理学家，半导体技术部，美国ARACOR公司（1985/8——1988/6）

副教授，材料科学系，台湾清华大学（1983/2——1985/7）

副研究员，材料和分子研究所，加州伯克莱大学（1978/9——1983/1）

副研究员，材料科学系，台湾清华大学（1975/9——1978/7）

         研究领域：

在IC，TFT-LCD，（III－V族）、（I－VI族）发光二极管，砷化镓化合物，磷化镓化合物，钨硅化合物半导体，锗/金属接触系统等不同领域皆有丰富的研发分析能力。

         专长：

电子显微镜分析、缺陷阻隔防治/故障分析、晶圆表面缺陷鉴定、微观结构研究、分析实验室之建构与运作及材料相关之基础研究。